Здесь представлены схемы, описания и документация для самостоятельной сборки сканирующего зондового микроскопа, способного увидеть отдельные атомы.

В зависимости от установленного зонда, микроскоп может быть:

STM -- более простой микроскоп. Он позволяет увидеть отдельные атомы на проводящих ток образцах.

В STM острая металлическая игла подводится к образцу на расстояние нескольких ангстрем. При подаче на иглу небольшого напряжения возникает туннельный ток, который сильно зависит от расстояния до образца. Перемещая образец под иглой и удерживая туннельный ток постоянным можно получить рельефную картину поверхности образца.

В отличие от STM, AFM может сканировать любые поверхности (не обязательно проводящие), в том числе и органические молекулы.

В AFM острая игла находится на конце упругой консоли (кантилевера), который вибрирует с определенной частотой. При приближении иглы к образцу амплитуда и фаза колебаний меняются. Для определения положения кантилевера используется оптическая головка от DVD привода.

Для перемещения образца относительно иглы с атомарной точностью используется дисковый пьезоэлемент от обычного звукового пьезоизлучателя, разделенный на 4 части.

В этом проекте были использованы идеи и решения из нескольких подобных проектов. Вы можете ознакомится с ними по ссылкам (все материалы на английском):

Разработка ещё не закончена. Новая информация будет появляться по мере поступления.